产品介绍

Thorlabs低插入损耗单模光纤跳线

Thorlabs低插入损耗单模光纤跳线

特性

低插入损耗(典型值)：

0.3 分贝 (600 - 800 nm)

0.5 - 0.6 分贝(405 - 532 nm和488 - 633 nm)

0.9 分贝(320 - 430 nm)

有效波段范围：320 - 430 nm，405 - 532 nm，488 - 633 nm或是633 -780 nm

可选的接头有(皆为2.0 毫米的窄口接头):

FC/PC

FC/APC

FC/PC转FC/APC

具有每根跳线单独测试的数据

附带两个CAPF防尘帽

Thorlabs公司提供两头带有FC/PC或FC/APC接头的低插入损耗单模跳线。此外，我们还提供FC/PC转FC/APC跳线。这些小纤芯跳线由我们自己的工厂中用设备进行制造，每一根都经过人工挑选，保证光纤具有很小的公差以及匹配的插芯。它们都经过测试，保证了其低损耗特性。

这里提供的跳线设计用于320 - 430 nm，400 - 532 nm，488 -633 nm，或者633 - 780 nm光波范围的信号传输，在低插入损耗跳线之间分别具有典型0.9 dB，0.5-0.6 dB或者0.3 dB插入损耗。我们的FC/PC跳线具有较高的50分贝(典型值)回波损耗，FC/APC跳线具有60分贝(典型值)回波损耗。每根光纤跳线的测量性能参数都在其附带的规格表中有详细介绍。

在标准跳线中，光纤参数(如纤芯-包层偏心度或纤芯与跳线中心的不对准程度)都会有微小的差异。在使用标准匹配套管对准单模跳线的纤芯时，其小纤芯会使这些差异更加严重，或是导致更高的插入损耗。通过广泛地挑选和测试过程，我们的低插入损耗跳线具有高同心度、对心良好的纤芯，可以极大地减小跳线的插入损耗(请参看对比标签了解更多细节)。

生产低插入损耗跳线的流程的*步是人工挑选纤芯-包层同心度高于典型值、小公差光纤外径的光纤，从而与插芯进行匹配。每个插芯也是通过人工进行挑选，从而使插芯内径与光纤尺寸相匹配，并匹配插芯的纤芯-外径同心度。这样就可以保证光纤能够z紧凑地被包裹，并具有z佳同心度，保证低插入损耗性能。插芯经过机器抛光，光纤纤芯与接头插销之间的对准公差为±5度。跳线的插入损耗通过测试，直到符合跳线的标准。通过人工挑选光纤和插芯，Thorlabs公司的低插入损耗跳线能够具有出色的性能和质量。

我们还提供匹配套管用于连接FC转FC、SMA转SMA和FC转SMA接头。这些匹配套管可以将背向反射小化，保证每个连接光纤末端的纤芯能够很好地对准。我们特别推荐使用我们更小公差的ADAFCPM2精密PM匹配套管，被用于达到下面说明书提到的插入损耗。

每根跳线有两个防尘帽，能够防止插芯末端受到尘土和其它污染物的污染。我们也单独销售保护FC/PC终端CAPF塑料光纤帽和CAPFM金属螺纹光纤帽。

如果您在我们的库存中找不到适合您应用的跳线，Thorlabs公司还提供定制低插入损耗跳线服务。请联系技术支持了解报价。此外，点击下面表格中连接有标准跳线定制且当天发货服务。

用我们的Centroc测试设备所测得的结果，显示了标准跳线(左)和低插入损耗跳线(右)的典型纤芯角度对准和同心度。

规格：

• 与另一根低插入损耗的光纤跳线配接时的插入损耗值。在405 nm波段下使用低插入损耗的跳线和一个ADAFCPM2匹配套管进行测试。
• z大衰减度数据针对无端接头的光纤。

• 光纤经过手工挑选，以确保更高的截止波长。在截止波长附近的单模操作需要考虑发射条件。
• 与另一根低插入损耗的光纤跳线配接时的插入损耗值。在488 nm（SM450跳线）或是630 nm（SM600跳线）波段，配合一个ADAFCPM2匹配套管利用另一根低插入损耗的跳线进行测试。
• 大衰减度数据针对无端接头的光纤。
• 衰减度是z差值，针对z短波长的情况。

对比

405 纳米跳线对比

T上图包含了Thorlabs公司长1米、2米的低插入损耗（LIL）跳线和标准跳线之间的示例对比数据。上述数据下长1米的LIL跳线具有-0.37分贝的平均插入损耗，长2米的LIL跳线具有-0.39分贝的插入损耗，长5米的LIL跳线具有-0.59分贝的插入损耗，而长1米的标准跳线具有-2.48分贝的插入损耗，长2米的标准跳线具有-2.44分贝的插入损耗，长5米的标准跳线具有-2.42分贝的插入损耗。5米跳线所测得的插入损耗稍高，这是因为我们没有对光纤的损耗进行校准。我们的LIL跳线的平均插入损耗与标准跳线相比平均高～7倍。

T在测试我们跳线的插入损耗时，我们将波长为405乃的光纤耦合激光光源耦合到精选的跳线中；跳线输出功率经过测试和调节，保证不同跳线的数值基本相同。每根待测光纤经过检查、清洁并连接到匹配套管上，然后记录下跳线的输出功率。这样一来，就可以进行光纤插入损耗的均匀性测量，并与其它跳线的插入损耗进行对比。测试过程如右图所示。

损伤阀值

激光诱导的光纤损伤

以下教程详述了无终端(裸露的)、有终端光纤以及其他基于激光光源的光纤元件的损伤机制，包括空气-玻璃界面(自由空间耦合或使用接头时)的损伤机制和光纤玻璃内的损伤机制。诸如裸纤、光纤跳线或熔接耦合器等光纤元件可能受到多种潜在的损伤(比如，接头、光纤端面和装置本身)。光纤适用的z大功率始终受到这些损伤机制的z小值的限制。

虽然可以使用比例关系和一般规则估算损伤阈值，但是，光纤的损伤阈值在很大程度上取决于应用和特定用户。用户可以以此教程为指南，估算*降低损伤风险的安全功率水平。如果遵守了所有恰当的制备和适用性指导，用户应该能够在的z大功率水平以下操作光纤元件；如果有元件并未z大功率，用户应该遵守下面描述的"实际安全水平"该，以安全操作相关元件。可能降低功率适用能力并给光纤元件造成损伤的因素包括，但不限于，光纤耦合时未对准、光纤端面受到污染或光纤本身有瑕疵。关于特定应用中光纤功率适用能力的深入讨论，请联系技术支持techsupport-cn@thorlabs.com。

空气-玻璃界面的损伤

空气/玻璃界面有几种潜在的损伤机制。自由空间耦合或使用光学接头匹配两根光纤时，光会入射到这个界面。如果光的强度很高，就会降低功率的适用性，并给光纤造成性损伤。而对于使用环氧树脂将接头与光纤固定的终端光纤而言，高强度的光产生的热量会使环氧树脂熔化，进而在光路中的光纤表面留下残留物。

损伤的光纤端面

未损伤的光纤端面

插芯/接头终端相关的损伤机制

有终端接头的光纤要考虑更多的功率适用条件。光纤一般通过环氧树脂粘合到陶瓷或不锈钢插芯中。光通过接头耦合到光纤时，没有进入纤芯并在光纤中传播的光会散射到光纤的外层，再进入插芯中，而环氧树脂用来将光纤固定在插芯中。如果光足够强，就可以熔化环氧树脂，使其气化，并在接头表面留下残渣。这样，光纤端面就出现了局部吸收点，造成耦合效率降低，散射增加，进而出现损伤。

与环氧树脂相关的损伤取决于波长，出于以下几个原因。一般而言，短波长的光比长波长的光散射更强。由于短波长单模光纤的MFD较小，且产生更多的散射光，则耦合时的偏移也更大。

为了*地减小熔化环氧树脂的风险，可以在光纤端面附近的光纤与插芯之间构建无环氧树脂的气隙光纤接头。我们的高功率多模光纤跳线就使用了这种设计特点的接头。

曲线图展现了带终端的单模石英光纤的大概功率适用水平。每条线展示了考虑具体损伤机制估算的功率水平。z大功率适用性受到所有相关损伤机制的z低功率水平限制(由实线表示)。

制备和处理光纤

通用清洁和操作指南建议将这些通用清洁和操作指南用于所有的光纤产品。而对于具体的产品，用户还是应该根据辅助文献或手册中给出的具体指南操作。只有遵守了所有恰当的清洁和操作步骤，损伤阈值的计算才会适用。

安装或集成光纤(有终端的光纤或裸纤)前应该关掉所有光源，以避免聚焦的光束入射在接头或光纤的脆弱部分而造成损伤。

光纤适用的功率直接与光纤/接头端面的质量相关。将光纤连接到光学系统前，一定要检查光纤的末端。端面应该是干净的，没有污垢和其它可能导致耦合光散射的污染物。另外，如果是裸纤，使用前应该剪切，用户应该检查光纤末端，确保切面质量良好。

如果将光纤熔接到光学系统，用户先应该在低功率下验证熔接的质量良好，然后在高功率下使用。熔接质量差，会增加光在熔接界面的散射，从而成为光纤损伤的来源。

对准系统和优化耦合时，用户应该使用低功率；这样可以*地减少光纤其他部分(非纤芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包层、涂覆层或接头，有可能产生散射光造成的损伤。

高功率下使用光纤的注意事项一般而言，光纤和光纤元件应该要在安全功率水平限制之内工作，但在理想的条件下(佳的光学对准和非常干净的光纤端面)，光纤元件适用的功率可能会增大。用户先必须在他们的系统内验证光纤的性能和稳定性，然后再提高输入或输出功率，遵守所有所需的安全和操作指导。以下事项是一些有用的建议，有助于考虑在光纤或组件中增大光学功率。

要防止光纤损伤光耦合进光纤的对准步骤也是重要的。在对准过程中，在取得z佳耦合前，光很容易就聚焦到光纤某部位而不是纤芯。如果高功率光束聚焦在包层或光纤其它部位时，会发生散射引起损伤

使用光纤熔接机将光纤组件熔接到系统中，可以增大适用的功率，因为它可以*地减少空气/光纤界面损伤的可能性。用户应该遵守所有恰当的指导来制备，并进行高质量的光纤熔接。熔接质量差可能导致散射，或在熔接界面局部形成高热区域，从而损伤光纤。

连接光纤或组件之后，应该在低功率下使用光源测试并对准系统。然后将系统功率缓慢增加到所希望的输出功率，同时周期性地验证所有组件对准良好，耦合效率相对光学耦合功率没有变化。

由于剧烈弯曲光纤造成的弯曲损耗可能使光从受到应力的区域漏出。在高功率下工作时，大量的光从很小的区域(受到应力的区域)逃出，从而在局部形成产生高热量，进而损伤光纤。请在操作过程中不要破坏或突然弯曲光纤，以尽可能地减少弯曲损耗。

用户应该针对给定的应用选择合适的光纤。例如，大模场光纤可以良好地代替标准的单模光纤在高功率应用中使用，因为前者可以提供更佳的光束质量，更大的MFD，且可以降低空气/光纤界面的功率密度。

阶跃折射率石英单模光纤一般不用于紫外光或高峰值功率脉冲应用，因为这些应用与高空间功率密度相关。

320 - 430 nm低插入损耗单模光纤跳线

a.    与另一低插入损耗光纤跳线配接时的插入损耗值。将低插入损耗单模跳线在405 nm波长下，搭配ADAFCPM2匹配套管进行测试。

b.    z大衰减度数据针对的是无端接头的光纤。

405 - 532 nm低插入损耗单模光纤跳线

a.    与另一低插入损耗光纤跳线配接时的插入损耗值。将低插入损耗单模跳线在405 nm波长下，搭配ADAFCPM2匹配套管进行测试。

b.    z大衰减度数据针对的是无端接头的光纤。

c.    所述的衰减度是z差情况的值，针对的是z短设计波长。

488 - 633 nm低插入损耗单模光纤跳线

a.    与另一根低插入损耗的光纤跳线配接时的插入损耗值。在488 nm波长下使用低插入损耗单模跳线和一个ADAFCPM2匹配套管进行测试。

b.    手选光纤来保证更高的截止波长。对于截止波长附近的单模操作，需考虑发射条件。

c.    z大衰减数据针对无端接头的光纤。

633 - 780 nm低插入损耗单模光纤跳线

a.    与另一低插入损耗的光纤配接时的插入损耗。在630 nm波长下将低插入损耗单模跳线搭配ADAFCPM2匹配套管进行测试。

b.    波长范围是截止波长和光纤不再传输的边缘波长之间的光谱区域，它表示光纤以低衰减度传输TEM₀₀模的区域。对于这种光纤，边缘波长通常比截止波长长200nm。

c.    衰减度是z差情况的值，针对的是z短波长。z大衰减度数据针对的是无端接头的光纤。

d.    衰减度是z差情况的值，针对的是z短波长。